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我们长期专注于硅片无接触式 测量设备及检测设备的研发与生产。
现有测量功能 厚度 TTV 电阻率 电阻率均匀性 弯曲度\Bow 翘曲度\Warp 平整度\TIR 型号\P/N。 测量产品 DSi2000 无接触式硅片厚度电阻率测量仪 DSi800 无接触式晶圆几何参数测量仪 DSi100H 无接触式硅片高电阻率测量仪 DSi100L 无接触式硅片低电阻率测量仪(重掺) 上海双尔电子科技公司本着"诚心为本,品质优先"的经营方针,稳健踏实与你一起追求更好的产品质量,更完善的售后服务, 全力打造成技术最好、质量最优、服务最佳的公司。... [详细介绍] |