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上海双尔电子科技有限公司
无接触式测量 厚度 电阻率 TTV Bow\弯曲度 Warp\翘曲度 型号
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无接触式 厚度 TTV Warp\翘曲度 Bow\弯曲度
能够测量Si,蓝宝石,GaAs,InP,Ge等材料硅片要求规格: 晶圆2、 3、4、5、6、8测量功能 厚度:单点及多点厚度 TTV:总厚度偏差
2013-01-30
无接触式 厚度 电阻率 手动
硅片要求 规格: 方片125125mm 、156156mm 圆片 3、4、5、6、8测量功能厚度:单点及多点厚度 TTV:总厚度偏差 体电阻率:单点及多
2013-01-30
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